Menetelmä hiukkasjakauman tiheysominaisuuksien mittaamiseksi

J. Keskinen (Inventor), M. Moisio (Inventor), M. Marjamäki (Inventor), A. Virtanen (Inventor), J. Ristimäki (Inventor)

    Research output: Patent

    Translated title of the contributionMenetelmä hiukkasjakauman tiheysominaisuuksien mittaamiseksi
    Original languageEnglish
    Patent numberPat. FI 115075 B
    Priority date28/02/05
    Publication statusPublished - 2005
    Publication typeH1 Granted patent

    Publication forum classification

    • No publication forum level

    Cite this