A new technique to characterize the second-order response of thin films of low symmetry

  • Mikael Tuomas Siltanen (Speaker)

    Aktiviteetti: Konferenssiesitelmä

    Aikajakso2003
    Tapahtuman otsikkoNorthern Optics 2003, 16-18 June 2003, Espoo
    Tapahtuman tyyppiConference

    Country of activity

    • Yhdysvallat (USA)

    Publication forum classification

    • Ei tasoa