Efficient image analysis technique to study the primary nanoparticle size distribution from TEM micrographs

    Aktiviteetti: Konferenssiesitelmä

    Description

    Poster
    Aikajakso2015
    Tapahtuman otsikkoInternational Congress on Safety of Engineered Nanoparticles and Nanotechnologies
    Tapahtuman tyyppiConference
    SijaintiHelsinki, SuomiNäytä kartalla