Second-harmonic generation microscopy of individual metal nanoparticles using cylindrical vector beams

    Aktiviteetti: Konferenssiesitelmä

    Aikajakso2012
    Tapahtuman otsikkoFocus on Microscopy 2012, FOM 2012, April 1-4, 2012, Singapore
    Tapahtuman tyyppiConference

    Country of activity

    • Singapore

    Publication forum classification

    • Ei tasoa

    Asiakirjat ja linkit