Siirry päänavigointiin
Siirry hakuun
Siirry pääsisältöön
Tampereen yliopiston tutkimusportaali Etusivu
Tuki ja usein esitetyt kysymykset
English
Suomi
Etusivu
Profiilit
Tutkimustuotokset
Tutkimusyksiköt
Aktiviteetit
Tutkimusaineistot
Tutkimusinfrastruktuurit
Lehtileikkeet
Palkinnot
Haku asiantuntemuksen, nimen tai kytköksen perusteella
Advanced Nonlinear Microscopy for Characterizing Novel Materials
Shambhavee Annurakshita
Fysiikka
Tutkimustuotos
:
Väitöskirja
›
Collection of Articles
Yleiskatsaus
Sormenjälki
Sormenjälki
Sukella tutkimusaiheisiin 'Advanced Nonlinear Microscopy for Characterizing Novel Materials'. Ne muodostavat yhdessä ainutlaatuisen sormenjäljen.
Järjestys:
Painoarvo
Aakkosjärjestyksessä
Material Science
Novel Material
100%
Bismuth
66%
Optical Property
33%
Thin Films
33%
Optical Imaging
33%
Manganese
33%
Photopolymerization
33%
Electron Microscopy
33%
Microscopy
33%
Crystal Structure
33%
Engineering
Harmonic Generation
100%
Limitations
40%
Nanoscale
40%
Photonics
40%
Thin Films
20%
Material System
20%
Optoelectronics
20%
Photopolymerization
20%
Technological Innovation
20%
Crystal Structure
20%
Keyphrases
Two-photon Excitation Fluorescence
66%
Sample Damage
33%
Photopolymerization Process
33%
Noninvasive Visualization
33%
Sectional Imaging
33%