Siirry päänavigointiin
Siirry hakuun
Siirry pääsisältöön
Tampereen yliopiston tutkimusportaali Etusivu
Tuki ja usein esitetyt kysymykset
English
Suomi
Etusivu
Profiilit
Tutkimustuotokset
Tutkimusyksiköt
Aktiviteetit
Tutkimusaineistot
Tutkimusinfrastruktuurit
Lehtileikkeet
Palkinnot
Haku asiantuntemuksen, nimen tai kytköksen perusteella
Advanced Nonlinear Microscopy for Characterizing Novel Materials
Shambhavee Annurakshita
Fysiikka
Tutkimustuotos
:
Väitöskirja
›
Collection of Articles
Yleiskatsaus
Sormenjälki
Sormenjälki
Sukella tutkimusaiheisiin 'Advanced Nonlinear Microscopy for Characterizing Novel Materials'. Ne muodostavat yhdessä ainutlaatuisen sormenjäljen.
Järjestys:
Painoarvo
Aakkosjärjestyksessä
Material Science
Bismuth
66%
Crystal Structure
33%
Electron Microscopy
33%
Manganese
33%
Microscopy
33%
Novel Material
100%
Optical Imaging
33%
Optical Property
33%
Photopolymerization
33%
Thin Films
33%
Engineering
Crystal Structure
20%
Harmonic Generation
100%
Limitations
40%
Material System
20%
Nanoscale
40%
Optoelectronics
20%
Photonics
40%
Photopolymerization
20%
Technological Innovation
20%
Thin Films
20%
Keyphrases
Noninvasive Visualization
33%
Photopolymerization Process
33%
Sample Damage
33%
Sectional Imaging
33%
Two-photon Excitation Fluorescence
66%