Barkhausen noise-magnetizing voltage sweep measurement in evaluation of residual stress in hardened components

Julkaisun otsikon käännös: Barkhausen noise-magnetizing voltage sweep measurement in evaluation of residual stress in hardened components

Suvi Santa-aho, Aki Sorsa, Merja Hakanen, Kauko Leiviskä, Minnamari Vippola, Toivo Lepistö

Tutkimustuotos: Artikkeli › Scientific › vertaisarvioitu

11 Sitaatiot (Scopus)

Julkaisun otsikon käännös	Barkhausen noise-magnetizing voltage sweep measurement in evaluation of residual stress in hardened components
Alkuperäiskieli	Englanti
Sivut	1-6
Sivumäärä	6
Julkaisu	Measurement Science and Technology
Vuosikerta	25
Numero	8
DOI - pysyväislinkit	https://doi.org/10.1088/0957-0233/25/8/085602
Tila	Julkaistu - 2014
OKM-julkaisutyyppi	A1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä

Julkaisufoorumi-taso

@article{92a6d403614242d6b7813b84eaa544df,

title = "Barkhausen noise-magnetizing voltage sweep measurement in evaluation of residual stress in hardened components",

author = "Suvi Santa-aho and Aki Sorsa and Merja Hakanen and Kauko Leivisk{\"a} and Minnamari Vippola and Toivo Lepist{\"o}",

note = "Contribution: organisation=mol,FACT1=1<br/>Portfolio EDEND: 2014-09-29<br/>Publisher name: IOP Publishing",

year = "2014",

doi = "10.1088/0957-0233/25/8/085602",

language = "English",

volume = "25",

pages = "1--6",

journal = "Measurement Science and Technology",

issn = "0957-0233",

publisher = "IOP Publishing",

number = "8",

}

TY - JOUR

T1 - Barkhausen noise-magnetizing voltage sweep measurement in evaluation of residual stress in hardened components

AU - Santa-aho, Suvi

AU - Sorsa, Aki

AU - Hakanen, Merja

AU - Leiviskä, Kauko

AU - Vippola, Minnamari

AU - Lepistö, Toivo

N1 - Contribution: organisation=mol,FACT1=1<br/>Portfolio EDEND: 2014-09-29<br/>Publisher name: IOP Publishing

PY - 2014

Y1 - 2014

U2 - 10.1088/0957-0233/25/8/085602

DO - 10.1088/0957-0233/25/8/085602

M3 - Article

SN - 0957-0233

VL - 25

SP - 1

EP - 6

JO - Measurement Science and Technology

JF - Measurement Science and Technology

IS - 8

ER -