Alkuperäiskieli | Englanti |
---|---|
Otsikko | Focus on Microscopy 2012 |
Toimittajat | Colin Sheppard, Thornsten Wohland, Fred Brakenhoff |
Julkaisupaikka | Singapore |
Sivut | 272 |
Sivumäärä | 1 |
Tila | Julkaistu - 2012 |
OKM-julkaisutyyppi | B3 Vertaisarvioimaton artikkeli konferenssijulkaisussa |
Julkaisusarja
Nimi | Focus on Microscopy Series |
---|---|
Numero | 25 |