| Alkuperäiskieli | Englanti |
|---|---|
| Otsikko | Focus on Microscopy 2012 |
| Toimittajat | Colin Sheppard, Thornsten Wohland, Fred Brakenhoff |
| Julkaisupaikka | Singapore |
| Sivut | 272 |
| Sivumäärä | 1 |
| Tila | Julkaistu - 2012 |
| OKM-julkaisutyyppi | B3 Vertaisarvioimaton artikkeli konferenssijulkaisussa |
Julkaisusarja
| Nimi | Focus on Microscopy Series |
|---|---|
| Numero | 25 |
Siteeraa tätä
- APA
- Author
- BIBTEX
- Harvard
- Standard
- RIS
- Vancouver