Siirry päänavigointiin Siirry hakuun Siirry pääsisältöön

Common rectifier diodes in thermal stability characterization measurements

Julkaisun otsikon käännös: Common rectifier diodes in thermal stability characterization measurements
  • Joonas Järvelä
  • , Antti Stenvall
  • , Risto Mikkonen

    Tutkimustuotos: ArtikkeliTieteellinenvertaisarvioitu

    Julkaisun otsikon käännösCommon rectifier diodes in thermal stability characterization measurements
    AlkuperäiskieliEnglanti
    Sivut1-5
    Sivumäärä5
    JulkaisuIEEE Transactions on Applied Superconductivity
    Vuosikerta23
    Numero3
    DOI - pysyväislinkit
    TilaJulkaistu - 2013
    OKM-julkaisutyyppiA1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä

    Julkaisufoorumi-taso

    • Jufo-taso 1

    Siteeraa tätä