Siirry päänavigointiin Siirry hakuun Siirry pääsisältöön

Donor levels and the microscopic structure of the DX center in n-type Si-doped AlGaInP grown by molecular-beam epitaxy

Julkaisun otsikon käännös: Donor levels and the microscopic structure of the DX center in n-type Si-doped AlGaInP grown by molecular-beam epitaxy
  • J. Mäkinen
  • , T. Laine
  • , J. Partanen
  • , K. Saarinen
  • , P. Hautojärvi
  • , K. Tappura
  • , T. Hakkarainen
  • , H. Asonen
  • , M. Pessa
  • , J.P. Kauppinen
  • , K. Vänttinen
  • , M. A. Paalanen

    Tutkimustuotos: ArtikkeliTieteellinenvertaisarvioitu

    12 Sitaatiot (Scopus)
    Julkaisun otsikon käännösDonor levels and the microscopic structure of the DX center in n-type Si-doped AlGaInP grown by molecular-beam epitaxy
    AlkuperäiskieliEnglanti
    Sivut7851-7862
    JulkaisuPhysical Review B
    Vuosikerta53
    Numero12
    TilaJulkaistu - 1996
    OKM-julkaisutyyppiA1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä

    Julkaisufoorumi-taso

    • Jufo-taso 2

    Siteeraa tätä