Effects of thermal aging on the characteristic breakdown behavior of Nano-SiO2-BOPP and BOPP films

Mikael Ritamäki; Ilkka Rytöluoto; Kari Lahti; Mikko Karttunen

doi:10.1109/ICPADM.2015.7295293

Effects of thermal aging on the characteristic breakdown behavior of Nano-SiO2-BOPP and BOPP films

Mikael Ritamäki
, Ilkka Rytöluoto
, Kari Lahti
, Mikko Karttunen

Tutkimustuotos: Konferenssiartikkeli › Tieteellinen › vertaisarvioitu

9 Sitaatiot (Scopus)

Alkuperäiskieli	Englanti
Otsikko	2015 IEEE 11th International Conference on the Properties and Applications of Dielectric Materials (ICPADM)
Sivut	400-403
Sivumäärä	4
ISBN (elektroninen)	978-1-4799-8903-4
DOI - pysyväislinkit	https://doi.org/10.1109/ICPADM.2015.7295293
Tila	Julkaistu - heinäk. 2015
OKM-julkaisutyyppi	A4 Artikkeli konferenssijulkaisussa
Tapahtuma	International Conference Properties and Applications of Dielectric Materials - , Austraalia Kesto: 1 tammik. 2015 → …

Conference

Conference	International Conference Properties and Applications of Dielectric Materials
Maa/Alue	Austraalia
Ajanjakso	1/01/15 → …

Julkaisufoorumi-taso

Ei tasoa

Pääsy asiakirjaan

10.1109/ICPADM.2015.7295293

Suurjännitelaboratorio
Lahti, K. (Yhteyshenkilö)
Sähkötekniikka
Laitteistot/tilat: Tutkimusinfrastruktuuri

Siteeraa tätä

@inproceedings{8a8d01c480884ef7847a4797dff92683,

title = "Effects of thermal aging on the characteristic breakdown behavior of Nano-SiO2-BOPP and BOPP films",

author = "Mikael Ritam{\"a}ki and Ilkka Ryt{\"o}luoto and Kari Lahti and Mikko Karttunen",

year = "2015",

month = jul,

doi = "10.1109/ICPADM.2015.7295293",

language = "English",

pages = "400--403",

booktitle = "2015 IEEE 11th International Conference on the Properties and Applications of Dielectric Materials (ICPADM)",

note = "International Conference Properties and Applications of Dielectric Materials ; Conference date: 01-01-2015",

}

Ritamäki, M, Rytöluoto, I , Lahti, K & Karttunen, M 2015, Effects of thermal aging on the characteristic breakdown behavior of Nano-SiO2-BOPP and BOPP films. julkaisussa 2015 IEEE 11th International Conference on the Properties and Applications of Dielectric Materials (ICPADM). Sivut 400-403, International Conference Properties and Applications of Dielectric Materials, Austraalia, 1/01/15. https://doi.org/10.1109/ICPADM.2015.7295293

TY - GEN

T1 - Effects of thermal aging on the characteristic breakdown behavior of Nano-SiO2-BOPP and BOPP films

AU - Ritamäki, Mikael

AU - Rytöluoto, Ilkka

AU - Lahti, Kari

AU - Karttunen, Mikko

PY - 2015/7

Y1 - 2015/7

U2 - 10.1109/ICPADM.2015.7295293

DO - 10.1109/ICPADM.2015.7295293

M3 - Conference contribution

SP - 400

EP - 403

BT - 2015 IEEE 11th International Conference on the Properties and Applications of Dielectric Materials (ICPADM)

T2 - International Conference Properties and Applications of Dielectric Materials

Y2 - 1 January 2015

ER -

Effects of thermal aging on the characteristic breakdown behavior of Nano-SiO2-BOPP and BOPP films

Conference

Julkaisufoorumi-taso

Pääsy asiakirjaan

Laitteet

Suurjännitelaboratorio

Siteeraa tätä