Electric-field-induced annihilation of localized gap defect states in amorphous phase-change memory materials

Konstantinos Konstantinou, Felix C. Mocanu, Jaakko Akola, Stephen R. Elliott

Tutkimustuotos: ArtikkeliScientificvertaisarvioitu

3 Lataukset (Pure)

Sormenjälki

Sukella tutkimusaiheisiin 'Electric-field-induced annihilation of localized gap defect states in amorphous phase-change memory materials'. Ne muodostavat yhdessä ainutlaatuisen sormenjäljen.

Engineering & Materials Science

Chemical Compounds