Siirry päänavigointiin Siirry hakuun Siirry pääsisältöön

Enhancing laser scanner accuracy by grid correction

Julkaisun otsikon käännös: Enhancing laser scanner accuracy by grid correction

    Tutkimustuotos: KonferenssiartikkeliTieteellinenvertaisarvioitu

    2 Sitaatiot (Scopus)
    Julkaisun otsikon käännösEnhancing laser scanner accuracy by grid correction
    AlkuperäiskieliEnglanti
    OtsikkoPhotonics West 2010 - MOEMS-MEMS: Micro- and Nanofabrication, 23-28 January, 2010, San Francisco, California, USA. Proceedings of SPIE
    ToimittajatMary Ann Maher, Jung-Chih Chiao, J. Resnick Paul
    JulkaisupaikkaBellingham, WA
    KustantajaSPIE
    Sivut1-9
    Sivumäärä9
    ISBN (painettu)978-0-8194-8020-0
    DOI - pysyväislinkit
    TilaJulkaistu - 2010
    OKM-julkaisutyyppiA4 Artikkeli konferenssijulkaisussa
    TapahtumaSPIE CONFERENCE PROCEEDINGS -
    Kesto: 1 tammik. 1900 → …

    Conference

    ConferenceSPIE CONFERENCE PROCEEDINGS
    Ajanjakso1/01/00 → …

    Julkaisufoorumi-taso

    • Ei tasoa

    Siteeraa tätä