Siirry päänavigointiin Siirry hakuun Siirry pääsisältöön

FDTD Analysis of CMOS Microstrip Structures

Julkaisun otsikon käännös: FDTD Analysis of CMOS Microstrip Structures

    Tutkimustuotos: Konferenssiartikkeli › Tieteellinen

    Julkaisun otsikon käännösFDTD Analysis of CMOS Microstrip Structures
    AlkuperäiskieliEnglanti
    Otsikko2002 3rd International Conference on Microwave and Millimeter Wave Technology Proceedings, August 17-19, 2002, Media Center, Beijing, China
    Sivut653-656
    TilaJulkaistu - 2002
    OKM-julkaisutyyppiB3 Vertaisarvioimaton artikkeli konferenssijulkaisussa

    Julkaisufoorumi-taso

    • Ei tasoa

    Siteeraa tätä