GAIS: a method for detecting interleaved sequential patterns from imperfect data

M. Ruotsalainen; T. Ala-Kleemola; A. Visa

GAIS: a method for detecting interleaved sequential patterns from imperfect data

Julkaisun otsikon käännös: GAIS: a method for detecting interleaved sequential patterns from imperfect data

M. Ruotsalainen, T. Ala-Kleemola, A. Visa

Tutkimustuotos: Konferenssiartikkeli › Tieteellinen › vertaisarvioitu

19 Sitaatiot (Scopus)

Julkaisun otsikon käännös	GAIS: a method for detecting interleaved sequential patterns from imperfect data
Alkuperäiskieli	Englanti
Otsikko	Proceedings of the 2007 IEEE Symposium on Computational Intelligence and Data Mining, SIDM 2007 (IEEE SSCI 2007), Honolulu, Hawaii, USA, 1-5 April 2007
Sivut	530-534
Tila	Julkaistu - 2007
OKM-julkaisutyyppi	A4 Artikkeli konferenssijulkaisussa

Julkaisufoorumi-taso

Ei tasoa

Pääsy asiakirjaan

http://sp.cs.tut.fi/pubdl/Ruotsalainen2007-GAIS.pdf

Siteeraa tätä

@inproceedings{d650bc7ea3c94622b4a6050b9f0defbc,

title = "GAIS: a method for detecting interleaved sequential patterns from imperfect data",

author = "M. Ruotsalainen and T. Ala-Kleemola and A. Visa",

note = "Contribution: organisation=sgn,FACT1=1",

year = "2007",

language = "English",

isbn = "1-4244-0705-2",

pages = "530--534",

booktitle = "Proceedings of the 2007 IEEE Symposium on Computational Intelligence and Data Mining, SIDM 2007 (IEEE SSCI 2007), Honolulu, Hawaii, USA, 1-5 April 2007",

}

GAIS: a method for detecting interleaved sequential patterns from imperfect data. / Ruotsalainen, M.; Ala-Kleemola, T.; Visa, A.
Proceedings of the 2007 IEEE Symposium on Computational Intelligence and Data Mining, SIDM 2007 (IEEE SSCI 2007), Honolulu, Hawaii, USA, 1-5 April 2007. 2007. s. 530-534.

Tutkimustuotos: Konferenssiartikkeli › Tieteellinen › vertaisarvioitu

TY - GEN

T1 - GAIS: a method for detecting interleaved sequential patterns from imperfect data

AU - Ruotsalainen, M.

AU - Ala-Kleemola, T.

AU - Visa, A.

N1 - Contribution: organisation=sgn,FACT1=1

PY - 2007

Y1 - 2007

M3 - Conference contribution

SN - 1-4244-0705-2

SP - 530

EP - 534

BT - Proceedings of the 2007 IEEE Symposium on Computational Intelligence and Data Mining, SIDM 2007 (IEEE SSCI 2007), Honolulu, Hawaii, USA, 1-5 April 2007

ER -