Implications for the Sampling System in Extending Automotive Particle Regulations below 23 nm: First Results of the DownToTen Project

Panu Karjalainen, Jorma Keskinen, Markus Bainschab, Alexander Bergmann, Andersson Jon, Athanasios Mamakos, Andreas Klug, Barouch Giechaskiel, Oriana Piacenza, Haisch Christoph, Leonidas Ntziachristos, Zissis Samaras

    Tutkimustuotos: AbstraktiTieteellinen

    AlkuperäiskieliEnglanti
    TilaJulkaistu - 2017
    TapahtumaAAAR 36th Annual Conference - Raleigh, NC, Yhdysvallat
    Kesto: 16 lokak. 201720 lokak. 2017

    Conference

    ConferenceAAAR 36th Annual Conference
    Maa/AlueYhdysvallat
    Ajanjakso16/10/1720/10/17

    Siteeraa tätä