Instrumentation and analytical methods of an x-ray photoelectron spectroscopy-scanning tunneling microscopy surface analysis system for studying nanostructured materials

Julkaisun otsikon käännös: Instrumentation and analytical methods of an x-ray photoelectron spectroscopy-scanning tunneling microscopy surface analysis system for studying nanostructured materials

K. Lahtonen, M. Lampimäki, P. Jussila, M. Hirsimäki, M. Valden

    Tutkimustuotos: ArtikkeliScientificvertaisarvioitu

    34 Sitaatiot (Scopus)
    Julkaisun otsikon käännösInstrumentation and analytical methods of an x-ray photoelectron spectroscopy-scanning tunneling microscopy surface analysis system for studying nanostructured materials
    AlkuperäiskieliEnglanti
    Sivut9 p
    JulkaisuReview of Scientific Instruments
    Vuosikerta77
    Numero1
    DOI - pysyväislinkit
    TilaJulkaistu - 2006
    OKM-julkaisutyyppiA1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä

    Julkaisufoorumi-taso

    • Ei tasoa

    Siteeraa tätä