Introduction to Fast Frequency-Response Measurement in Micro and Nano Technology

Julkaisun otsikon käännös: Introduction to Fast Frequency-Response Measurement in Micro and Nano Technology

T. Roinila, L. Kai, X. Wen-ming, L. Li-hui, X. Yu, Z. Hui-guo, M. Vilkko

    Tutkimustuotos: ArtikkeliScientificvertaisarvioitu

    Julkaisun otsikon käännösIntroduction to Fast Frequency-Response Measurement in Micro and Nano Technology
    AlkuperäiskieliKiina
    Sivut24-30
    Sivumäärä7
    JulkaisuChangshu Gao-Zhuan Xuebao
    Vuosikerta27
    Numero4
    TilaJulkaistu - 2013
    OKM-julkaisutyyppiA1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä

    Julkaisufoorumi-taso

    • Ei tasoa

    Siteeraa tätä