Siirry päänavigointiin Siirry hakuun Siirry pääsisältöön

Menetelmä hiukkasjakauman ominaisuuksien mittaamiseksi

  • J. Keskinen (Keksijä)
  • , M. Moisio (Keksijä)
  • , M. Marjamäki (Keksijä)
  • , A. Virtanen (Keksijä)
  • , J. Ristimäki (Keksijä)

    Tutkimustuotos: Patentti

    Julkaisun otsikon käännösMenetelmä hiukkasjakauman ominaisuuksien mittaamiseksi
    AlkuperäiskieliSuomi
    PatenttinumeroPat. FI 115074 B
    Prioriteetti päiväys28/02/05
    TilaJulkaistu - 2005
    OKM-julkaisutyyppiH1 Myönnetty patentti

    Julkaisufoorumi-taso

    • Ei tasoa

    • Method for measuring properties of a particle distribution

      Julkaisun otsikon käännös: Method for measuring properties of a particle distributionKeskinen, J. (Keksijä), Marjamäki, M. (Keksijä), Moisio, M. (Keksijä), Ristimäki, J. (Keksijä) & Virtanen, A. (Keksijä), 2006, Patenttinumero Pat. US 7066037 (B2), Prioriteetin päiväys 27 kesäk. 2006, Prioriteettinumero (21) 10/487264 (30) 20011668

      Tutkimustuotos: Patentti

    Siteeraa tätä