Menetelmä hiukkasjakauman tiheysominaisuuksien mittaamiseksi

Julkaisun otsikon käännös: Menetelmä hiukkasjakauman tiheysominaisuuksien mittaamiseksi

J. Keskinen (Keksijä), M. Moisio (Keksijä), M. Marjamäki (Keksijä), A. Virtanen (Keksijä), J. Ristimäki (Keksijä)

    Tutkimustuotos: Patentti

    Julkaisun otsikon käännösMenetelmä hiukkasjakauman tiheysominaisuuksien mittaamiseksi
    AlkuperäiskieliEnglanti
    PatenttinumeroPat. FI 115075 B
    Prioriteetti päiväys28/02/05
    TilaJulkaistu - 2005
    OKM-julkaisutyyppiH1 Myönnetty patentti

    Julkaisufoorumi-taso

    • Ei tasoa

    Siteeraa tätä