Microscopic second-order suspectibility tensor analysis

Julkaisun otsikon käännös: Microscopic second-order suspectibility tensor analysis

L. Naskali, M. Huttunen, M. Virkki, G. Bautista, A. Der, M. Kauranen

    Tutkimustuotos: KonferenssiartikkeliScientific

    Julkaisun otsikon käännösMicroscopic second-order suspectibility tensor analysis
    AlkuperäiskieliEnglanti
    OtsikkoPhysics Days 2013 - Fysiikan päivät 2013, the 47th annual meeting of the Finnish Physical Society, Otaniemi, Espoo, March 14-16, 2013
    KustantajaSuomen fyysikkoseura
    Sivut10.9 - 10.9
    Sivumäärä1
    TilaJulkaistu - 2013
    OKM-julkaisutyyppiB3 Vertaisarvioimaton artikkeli konferenssijulkaisussa

    Julkaisusarja

    NimiPhysics Days / Fysiikan päivät : Annual Meeting of the Finnish Physical Society
    Numero47

    Siteeraa tätä