Nonlinear microscopy of nano-objects using excitation beam profiles with engineered phase jumps

Léo Turquet, Joona Pekko Kakko, Lasse Karvonen, Hua Jiang, Tero Isotalo, Teppo Huhtio, Tapio Niemi, Esko Kauppinen, Harri Lipsanen, Martti Kauranen, Godofredo Bautista

    Tutkimustuotos: KonferenssiartikkeliTieteellinen

    Abstrakti

    We introduce nonlinear microscopy with phase-engineered incident beams. By controlling the phase across an incident Hermite-Gaussian HG10 beam, we vary the longitudinal field component at focus, allowing tailoring of second-harmonic generation from vertically-oriented nanowires.
    AlkuperäiskieliEnglanti
    OtsikkoCLEO: QELS_Fundamental Science 2016
    KustantajaOptical Society of America
    SivutFTh3A.6
    ISBN (elektroninen)978-1-943580-11-8
    DOI - pysyväislinkit
    TilaJulkaistu - 2016
    OKM-julkaisutyyppiB3 Vertaisarvioimaton artikkeli konferenssijulkaisussa
    TapahtumaCONFERENCE ON LASERS AND ELECTRO-OPTICS AND QUANTUM ELECTRONICS AND LASER SCIENCE CONFERENCE -
    Kesto: 1 tammik. 1900 → …

    Conference

    ConferenceCONFERENCE ON LASERS AND ELECTRO-OPTICS AND QUANTUM ELECTRONICS AND LASER SCIENCE CONFERENCE
    Ajanjakso1/01/00 → …

    Sormenjälki

    Sukella tutkimusaiheisiin 'Nonlinear microscopy of nano-objects using excitation beam profiles with engineered phase jumps'. Ne muodostavat yhdessä ainutlaatuisen sormenjäljen.

    Siteeraa tätä