Nonlinear microscopy of nano-objects using spatially engineered phase jumps

Leo Turquet, Joona-Pekko Kakko, L. Karvonen, H. Jiang, Tero Jesse Isotalo, Teppo Huhtio, Kari Tapio Niemi, E. Kauppinen, Harri Lipsanen, Martti Olavi Kauranen, Godofredo Jr Bautista

    Tutkimustuotos: AbstraktiScientific

    Abstrakti

    Here, we demonstrate the arbitrary control of longitudinal fields and its spatial distribution at the focus of a microscope objective using nonlinear microscopy with engineered phase jumps (or discontinuities) in the excitation beam profile.
    AlkuperäiskieliEnglanti
    Sivumäärä1
    TilaJulkaistu - 2016
    TapahtumaOPTICS DAYS -
    Kesto: 1 tammik. 1900 → …

    Conference

    ConferenceOPTICS DAYS
    Ajanjakso1/01/00 → …

    Sormenjälki

    Sukella tutkimusaiheisiin 'Nonlinear microscopy of nano-objects using spatially engineered phase jumps'. Ne muodostavat yhdessä ainutlaatuisen sormenjäljen.

    Siteeraa tätä