Siirry päänavigointiin Siirry hakuun Siirry pääsisältöön

On reachable state space reduction for formal validation of scan-based systems

Julkaisun otsikon käännös: On reachable state space reduction for formal validation of scan-based systems

    Tutkimustuotos: KonferenssiartikkeliTieteellinenvertaisarvioitu

    2 Sitaatiot (Scopus)
    Julkaisun otsikon käännösOn reachable state space reduction for formal validation of scan-based systems
    AlkuperäiskieliEnglanti
    OtsikkoINDIN'06, 2006 IEEE International Conference on Industrial Informatics. Integrating Manufacturing and Services Systems. 16-18 August, 2006. Grand Copthorne Waterfront Hotel, Singapore
    Sivut79-84
    TilaJulkaistu - 2006
    OKM-julkaisutyyppiA4 Artikkeli konferenssijulkaisussa

    Julkaisufoorumi-taso

    • Ei tasoa

    Siteeraa tätä