Julkaisun otsikon käännös | Relaxation analysis of tensile-strained GaInP by means of strain-induced wafer curvature |
---|---|
Alkuperäiskieli | Englanti |
Otsikko | 15th European Molecular Beam Epitaxy Workshop, Zakopane, Poland, 8-11 March, 2009 |
Sivut | 2 p |
Tila | Julkaistu - 2009 |
OKM-julkaisutyyppi | B3 Vertaisarvioimaton artikkeli konferenssijulkaisussa |
Julkaisufoorumi-taso
- Ei tasoa