Reliability analysis of two frequency converter generations using system-level stress testing

Julkaisun otsikon käännös: Reliability analysis of two frequency converter generations using system-level stress testing

Tutkimustuotos: Artikkeli › Tieteellinen › vertaisarvioitu

6 Sitaatiot (Scopus)

Julkaisun otsikon käännös	Reliability analysis of two frequency converter generations using system-level stress testing
Alkuperäiskieli	Englanti
Sivut	929-1244
Julkaisu	IET Power Electronics
Vuosikerta	5
Numero	7
DOI - pysyväislinkit	https://doi.org/10.1049/iet-pel.2011.0381
Tila	Julkaistu - 2012
OKM-julkaisutyyppi	A1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä

Julkaisufoorumi-taso

@article{1ecf95d7b3414ae2a0a360897e811400,

title = "Reliability analysis of two frequency converter generations using system-level stress testing",

author = "Janne Kiilunen and Laura Frisk",

note = "Contribution: organisation=ele,FACT1=1<br/>Publisher name: Institution of Engineering and Technology IET",

year = "2012",

doi = "10.1049/iet-pel.2011.0381",

language = "English",

volume = "5",

pages = "929--1244",

journal = "IET Power Electronics",

issn = "1755-4535",

publisher = "John Wiley \& Sons",

number = "7",

}

TY - JOUR

T1 - Reliability analysis of two frequency converter generations using system-level stress testing

AU - Kiilunen, Janne

AU - Frisk, Laura

N1 - Contribution: organisation=ele,FACT1=1<br/>Publisher name: Institution of Engineering and Technology IET

PY - 2012

Y1 - 2012

U2 - 10.1049/iet-pel.2011.0381

DO - 10.1049/iet-pel.2011.0381

M3 - Article

SN - 1755-4535

VL - 5

SP - 929

EP - 1244

JO - IET Power Electronics

JF - IET Power Electronics

IS - 7

ER -