Scanner test pattern for evaluation of beam manipulation accuracy

Tero Kumpulainen; Jyrki Latokartano; Jorma Vihinen; Reijo Tuokko

doi:10.1109/ISAM.2011.5942345

Scanner test pattern for evaluation of beam manipulation accuracy

Julkaisun otsikon käännös: Scanner test pattern for evaluation of beam manipulation accuracy

Tero Kumpulainen, Jyrki Latokartano, Jorma Vihinen, Reijo Tuokko

Tutkimustuotos: Konferenssiartikkeli › Scientific › vertaisarvioitu

2 Sitaatiot (Scopus)

Julkaisun otsikon käännös	Scanner test pattern for evaluation of beam manipulation accuracy
Alkuperäiskieli	Englanti
Otsikko	IEEE International Symposium on Assembly and Manufacturing, ISAM 2011, 25-27 May, 2011, Tampere Hall, Tampere, Finland
Julkaisupaikka	Piscataway, NJ
Kustantaja	IEEE
Sivut	1-6
Sivumäärä	6
ISBN (painettu)	978-1-61284-342-1
DOI - pysyväislinkit	https://doi.org/10.1109/ISAM.2011.5942345
Tila	Julkaistu - 2011
OKM-julkaisutyyppi	A4 Artikkeli konferenssijulkaisussa

Julkaisusarja

Nimi	IEEE International Symposium on Assembly and Manufacturing ISAM
Kustantaja	IEEE

Julkaisufoorumi-taso

Jufo-taso 1

Pääsy asiakirjaan

10.1109/ISAM.2011.5942345

Siteeraa tätä

Kumpulainen, T., Latokartano, J., Vihinen, J., & Tuokko, R. (2011). Scanner test pattern for evaluation of beam manipulation accuracy. teoksessa IEEE International Symposium on Assembly and Manufacturing, ISAM 2011, 25-27 May, 2011, Tampere Hall, Tampere, Finland (Sivut 1-6). (IEEE International Symposium on Assembly and Manufacturing ISAM). IEEE. https://doi.org/10.1109/ISAM.2011.5942345

@inproceedings{657787a8077841578f9962a924eb30cd,

title = "Scanner test pattern for evaluation of beam manipulation accuracy",

author = "Tero Kumpulainen and Jyrki Latokartano and Jorma Vihinen and Reijo Tuokko",

note = "ei ut-numeroa 29.3.2014<br/>Contribution: organisation=tte,FACT1=1",

year = "2011",

doi = "10.1109/ISAM.2011.5942345",

language = "English",

isbn = "978-1-61284-342-1",

series = "IEEE International Symposium on Assembly and Manufacturing ISAM",

publisher = "IEEE",

pages = "1--6",

booktitle = "IEEE International Symposium on Assembly and Manufacturing, ISAM 2011, 25-27 May, 2011, Tampere Hall, Tampere, Finland",

}

Kumpulainen, T , Latokartano, J, Vihinen, J & Tuokko, R 2011, Scanner test pattern for evaluation of beam manipulation accuracy. julkaisussa IEEE International Symposium on Assembly and Manufacturing, ISAM 2011, 25-27 May, 2011, Tampere Hall, Tampere, Finland. IEEE International Symposium on Assembly and Manufacturing ISAM, IEEE, Piscataway, NJ, Sivut 1-6. https://doi.org/10.1109/ISAM.2011.5942345

Scanner test pattern for evaluation of beam manipulation accuracy. / Kumpulainen, Tero ; Latokartano, Jyrki; Vihinen, Jorma et al.
IEEE International Symposium on Assembly and Manufacturing, ISAM 2011, 25-27 May, 2011, Tampere Hall, Tampere, Finland. Piscataway, NJ: IEEE, 2011. s. 1-6 (IEEE International Symposium on Assembly and Manufacturing ISAM).

Tutkimustuotos: Konferenssiartikkeli › Scientific › vertaisarvioitu

TY - GEN

T1 - Scanner test pattern for evaluation of beam manipulation accuracy

AU - Kumpulainen, Tero

AU - Latokartano, Jyrki

AU - Vihinen, Jorma

AU - Tuokko, Reijo

N1 - ei ut-numeroa 29.3.2014<br/>Contribution: organisation=tte,FACT1=1

PY - 2011

Y1 - 2011

U2 - 10.1109/ISAM.2011.5942345

DO - 10.1109/ISAM.2011.5942345

M3 - Conference contribution

SN - 978-1-61284-342-1

T3 - IEEE International Symposium on Assembly and Manufacturing ISAM

SP - 1

EP - 6

BT - IEEE International Symposium on Assembly and Manufacturing, ISAM 2011, 25-27 May, 2011, Tampere Hall, Tampere, Finland

PB - IEEE

CY - Piscataway, NJ

ER -

Kumpulainen T , Latokartano J, Vihinen J, Tuokko R. Scanner test pattern for evaluation of beam manipulation accuracy. julkaisussa IEEE International Symposium on Assembly and Manufacturing, ISAM 2011, 25-27 May, 2011, Tampere Hall, Tampere, Finland. Piscataway, NJ: IEEE. 2011. s. 1-6. (IEEE International Symposium on Assembly and Manufacturing ISAM). doi: 10.1109/ISAM.2011.5942345