Second-harmonic generation microscopy of vertically aligned semiconductor nanowires using vector beams

Godofredo Jr Bautista, Jouni Aleksi Mäkitalo, Ya Chen, Veer Dhaka, Marco Grasso, Lasse Karvonen, Hua Jiang, Mikko Johannes Huttunen, Teppo Huhtio, Harri Lipsanen, Martti Olavi Kauranen

    Tutkimustuotos: KonferenssiartikkeliScientific

    AlkuperäiskieliEnglanti
    OtsikkoFocus on Microscopy 2015
    ToimittajatGertrude Bunt, Fred Wouters, Fred Brakenhoff
    Sivut91
    Sivumäärä1
    TilaJulkaistu - 2015
    OKM-julkaisutyyppiB3 Vertaisarvioimaton artikkeli konferenssijulkaisussa

    Julkaisusarja

    NimiFocus on Microscopy Series
    Numero28

    Siteeraa tätä