Second-harmonic generation microscopy of vertically aligned semiconductor nanowires using vector beams

Godofredo Jr Bautista; Jouni Aleksi Mäkitalo; Ya Chen; Veer Dhaka; Marco Grasso; Lasse Karvonen; Hua Jiang; Mikko Johannes Huttunen; Teppo Huhtio; Harri Lipsanen; Martti Olavi Kauranen

Second-harmonic generation microscopy of vertically aligned semiconductor nanowires using vector beams

Godofredo Jr Bautista, Jouni Aleksi Mäkitalo, Ya Chen, Veer Dhaka, Marco Grasso, Lasse Karvonen, Hua Jiang, Mikko Johannes Huttunen, Teppo Huhtio, Harri Lipsanen, Martti Olavi Kauranen

Tutkimustuotos: Konferenssiartikkeli › Tieteellinen

Alkuperäiskieli	Englanti
Otsikko	Focus on Microscopy 2015
Toimittajat	Gertrude Bunt, Fred Wouters, Fred Brakenhoff
Sivut	91
Sivumäärä	1
Tila	Julkaistu - 2015
OKM-julkaisutyyppi	B3 Vertaisarvioimaton artikkeli konferenssijulkaisussa

Julkaisusarja

Nimi	Focus on Microscopy Series
Numero	28

Muut tiedostot ja linkit

http://www.focusonmicroscopy.org/2015/PDF/205_Bautista.pdf

Siteeraa tätä

Bautista, G. J., Mäkitalo, J. A., Chen, Y., Dhaka, V., Grasso, M., Karvonen, L., Jiang, H., Huttunen, M. J., Huhtio, T., Lipsanen, H., & Kauranen, M. O. (2015). Second-harmonic generation microscopy of vertically aligned semiconductor nanowires using vector beams. teoksessa G. Bunt, F. Wouters, & F. Brakenhoff (Toimittajat), Focus on Microscopy 2015 (Sivut 91). Artikkeli MO-AF2-PAR-E (Focus on Microscopy Series; Nro 28).

@inproceedings{c2809f979a444acbb6a76a86ea403463,

title = "Second-harmonic generation microscopy of vertically aligned semiconductor nanowires using vector beams",

author = "Bautista, {Godofredo Jr} and M{\"a}kitalo, {Jouni Aleksi} and Ya Chen and Veer Dhaka and Marco Grasso and Lasse Karvonen and Hua Jiang and Huttunen, {Mikko Johannes} and Teppo Huhtio and Harri Lipsanen and Kauranen, {Martti Olavi}",

note = "xabstract",

year = "2015",

language = "English",

series = "Focus on Microscopy Series",

number = "28",

pages = "91",

editor = "Gertrude Bunt and Fred Wouters and Fred Brakenhoff",

booktitle = "Focus on Microscopy 2015",

}

Bautista, GJ, Mäkitalo, JA, Chen, Y, Dhaka, V, Grasso, M, Karvonen, L, Jiang, H, Huttunen, MJ, Huhtio, T, Lipsanen, H & Kauranen, MO 2015, Second-harmonic generation microscopy of vertically aligned semiconductor nanowires using vector beams. julkaisussa G Bunt, F Wouters & F Brakenhoff (toim), Focus on Microscopy 2015., MO-AF2-PAR-E, Focus on Microscopy Series, Nro 28, Sivut 91.

TY - GEN

T1 - Second-harmonic generation microscopy of vertically aligned semiconductor nanowires using vector beams

AU - Bautista, Godofredo Jr

AU - Mäkitalo, Jouni Aleksi

AU - Chen, Ya

AU - Dhaka, Veer

AU - Grasso, Marco

AU - Karvonen, Lasse

AU - Jiang, Hua

AU - Huttunen, Mikko Johannes

AU - Huhtio, Teppo

AU - Lipsanen, Harri

AU - Kauranen, Martti Olavi

N1 - xabstract

PY - 2015

Y1 - 2015

UR - http://www.focusonmicroscopy.org/2015/PDF/205_Bautista.pdf

M3 - Conference contribution

T3 - Focus on Microscopy Series

SP - 91

BT - Focus on Microscopy 2015

A2 - Bunt, Gertrude

A2 - Wouters, Fred

A2 - Brakenhoff, Fred

ER -