Second-harmonic generation microscopy of vertically aligned semiconductor nanowires using vector beams

Godofredo Jr Bautista; Jouni Aleksi Mäkitalo; Ya Chen; Veer Dhaka; Marco Grasso; Lasse Karvonen; Hua Jiang; Mikko Johannes Huttunen; Teppo Huhtio; Harri Lipsanen; Martti Olavi Kauranen

Second-harmonic generation microscopy of vertically aligned semiconductor nanowires using vector beams

Godofredo Jr Bautista
, Jouni Aleksi Mäkitalo
, Ya Chen
, Veer Dhaka
, Marco Grasso
, Lasse Karvonen
, Hua Jiang
, Mikko Johannes Huttunen
, Teppo Huhtio
, Harri Lipsanen
, Martti Olavi Kauranen

Tutkimustuotos: Konferenssiartikkeli › Tieteellinen

Alkuperäiskieli	Englanti
Otsikko	Focus on Microscopy 2015
Toimittajat	Gertrude Bunt, Fred Wouters, Fred Brakenhoff
Sivut	91
Sivumäärä	1
Tila	Julkaistu - 2015
OKM-julkaisutyyppi	B3 Vertaisarvioimaton artikkeli konferenssijulkaisussa

Julkaisusarja

Nimi	Focus on Microscopy Series
Numero	28

Muut tiedostot ja linkit

http://www.focusonmicroscopy.org/2015/PDF/205_Bautista.pdf

Siteeraa tätä

Bautista, G. J., Mäkitalo, J. A., Chen, Y., Dhaka, V., Grasso, M., Karvonen, L., Jiang, H., Huttunen, M. J., Huhtio, T., Lipsanen, H., & Kauranen, M. O. (2015). Second-harmonic generation microscopy of vertically aligned semiconductor nanowires using vector beams. teoksessa G. Bunt, F. Wouters, & F. Brakenhoff (Toimittajat), Focus on Microscopy 2015 (Sivut 91). Artikkeli MO-AF2-PAR-E (Focus on Microscopy Series; Nro 28).

@inproceedings{c2809f979a444acbb6a76a86ea403463,

title = "Second-harmonic generation microscopy of vertically aligned semiconductor nanowires using vector beams",

author = "Bautista, \{Godofredo Jr\} and M{\"a}kitalo, \{Jouni Aleksi\} and Ya Chen and Veer Dhaka and Marco Grasso and Lasse Karvonen and Hua Jiang and Huttunen, \{Mikko Johannes\} and Teppo Huhtio and Harri Lipsanen and Kauranen, \{Martti Olavi\}",

note = "xabstract",

year = "2015",

language = "English",

series = "Focus on Microscopy Series",

number = "28",

pages = "91",

editor = "Gertrude Bunt and Fred Wouters and Fred Brakenhoff",

booktitle = "Focus on Microscopy 2015",

}

Bautista, GJ, Mäkitalo, JA, Chen, Y, Dhaka, V, Grasso, M, Karvonen, L, Jiang, H, Huttunen, MJ, Huhtio, T, Lipsanen, H & Kauranen, MO 2015, Second-harmonic generation microscopy of vertically aligned semiconductor nanowires using vector beams. julkaisussa G Bunt, F Wouters & F Brakenhoff (toim), Focus on Microscopy 2015., MO-AF2-PAR-E, Focus on Microscopy Series, Nro 28, Sivut 91.

TY - GEN

T1 - Second-harmonic generation microscopy of vertically aligned semiconductor nanowires using vector beams

AU - Bautista, Godofredo Jr

AU - Mäkitalo, Jouni Aleksi

AU - Chen, Ya

AU - Dhaka, Veer

AU - Grasso, Marco

AU - Karvonen, Lasse

AU - Jiang, Hua

AU - Huttunen, Mikko Johannes

AU - Huhtio, Teppo

AU - Lipsanen, Harri

AU - Kauranen, Martti Olavi

N1 - xabstract

PY - 2015

Y1 - 2015

UR - http://www.focusonmicroscopy.org/2015/PDF/205_Bautista.pdf

M3 - Conference contribution

T3 - Focus on Microscopy Series

SP - 91

BT - Focus on Microscopy 2015

A2 - Bunt, Gertrude

A2 - Wouters, Fred

A2 - Brakenhoff, Fred

ER -