Siirry päänavigointiin Siirry hakuun Siirry pääsisältöön

Spectral microthermography for component discrimination and hot spot identification in integrated circuits

Julkaisun otsikon käännös: Spectral microthermography for component discrimination and hot spot identification in integrated circuits
  • G. Bautista
  • , C.M. Blanca
  • , S. Delica
  • , B. Buenaobra
  • , C. Saloma

    Tutkimustuotos: ArtikkeliTieteellinenvertaisarvioitu

    8 Sitaatiot (Scopus)
    Julkaisun otsikon käännösSpectral microthermography for component discrimination and hot spot identification in integrated circuits
    AlkuperäiskieliEnglanti
    Sivut1021-1026
    Sivumäärä6
    JulkaisuOptics Express
    Vuosikerta14
    Numero3
    DOI - pysyväislinkit
    TilaJulkaistu - 2006
    OKM-julkaisutyyppiA1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä

    Julkaisufoorumi-taso

    • Jufo-taso 2

    Siteeraa tätä