Strength of Ta-Si interfaces by molecular dynamics

Julkaisun otsikon käännös: Strength of Ta-Si interfaces by molecular dynamics

Tutkimustuotos: Artikkeli › Tieteellinen › vertaisarvioitu

9 Sitaatiot (Scopus)

Julkaisun otsikon käännös	Strength of Ta-Si interfaces by molecular dynamics
Alkuperäiskieli	Englanti
Sivut	645-650
Julkaisu	Microelectronics Reliability
Numero	43
Tila	Julkaistu - 2003
OKM-julkaisutyyppi	A1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä

Julkaisufoorumi-taso

@article{d7233416de324182ac36c5e34a199dc9,

title = "Strength of Ta-Si interfaces by molecular dynamics",

author = "P. Heino and E. Ristolainen",

note = "Contribution: organisation=ele,FACT1=1",

year = "2003",

language = "English",

pages = "645--650",

journal = "Microelectronics Reliability",

issn = "0026-2714",

publisher = "Elsevier Limited",

number = "43",

}