Structural characterization of InAs quantum dot chains grown by molecular beam epitaxy on nanoimprint lithography patterned GaAs(100)

Julkaisun otsikon käännös: Structural characterization of InAs quantum dot chains grown by molecular beam epitaxy on nanoimprint lithography patterned GaAs(100)

Teemu V. Hakkarainen, Juha Tommila, Andreas Schramm, Antti Tukiainen, Risto Ahorinta, Mihail Dumitrescu, Mircea Guina

    Tutkimustuotos: ArtikkeliTieteellinenvertaisarvioitu

    13 Sitaatiot (Scopus)
    Julkaisun otsikon käännösStructural characterization of InAs quantum dot chains grown by molecular beam epitaxy on nanoimprint lithography patterned GaAs(100)
    AlkuperäiskieliEnglanti
    Artikkeli295604
    Sivut1-7
    Sivumäärä7
    JulkaisuNanotechnology
    Vuosikerta22
    Numero29
    DOI - pysyväislinkit
    TilaJulkaistu - 2011
    OKM-julkaisutyyppiA1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä

    Julkaisufoorumi-taso

    • Jufo-taso 3

    Siteeraa tätä