Surface structure and rectivity of N/Cu(100) and O+N/Cu(100) as envestigated by LEED, STM, AES and TPD

Julkaisun otsikon käännös: Surface structure and rectivity of N/Cu(100) and O+N/Cu(100) as envestigated by LEED, STM, AES and TPD

M. Hirsimäki, M. Ahonen, K. Lahtonen, M. Lampimäki, M. Valden

    Tutkimustuotos: KonferenssiartikkeliScientific

    Julkaisun otsikon käännösSurface structure and rectivity of N/Cu(100) and O+N/Cu(100) as envestigated by LEED, STM, AES and TPD
    AlkuperäiskieliEnglanti
    Otsikko17th International Vacuum Congress, July 2-6, 2007, Stockholm, Sweden
    Sivut1 p
    TilaJulkaistu - 2007
    OKM-julkaisutyyppiB3 Vertaisarvioimaton artikkeli konferenssijulkaisussa

    Julkaisufoorumi-taso

    • Ei tasoa

    Siteeraa tätä