The error concealment feature in the H.26L test model

Julkaisun otsikon käännös: The error concealment feature in the H.26L test model

Y-K. Wang, M. M. Hannuksela, V. Varsa, A. Hourunranta, M. Gabbouj

Tutkimustuotos: Konferenssiartikkeli › Scientific › vertaisarvioitu

281 Sitaatiot (Scopus)

Julkaisun otsikon käännös	The error concealment feature in the H.26L test model
Alkuperäiskieli	Englanti
Otsikko	Proceedings of IEEE 2002 Internantional Conference on Image Processing, ICIP, 22-25 September 2002, Rochester, New York, USA
Sivut	729-732
Tila	Julkaistu - 2002
OKM-julkaisutyyppi	A4 Artikkeli konferenssijulkaisussa

Julkaisufoorumi-taso

@inproceedings{dd0f2ca7873a4b0c9dc4388864a6f8b4,

title = "The error concealment feature in the H.26L test model",

author = "Y-K. Wang and Hannuksela, {M. M.} and V. Varsa and A. Hourunranta and M. Gabbouj",

note = "0-7803-7622-6<br/>Contribution: organisation=sgn,FACT1=1",

year = "2002",

language = "English",

pages = "729--732",

booktitle = "Proceedings of IEEE 2002 Internantional Conference on Image Processing, ICIP, 22-25 September 2002, Rochester, New York, USA",

}

TY - GEN

T1 - The error concealment feature in the H.26L test model

AU - Wang, Y-K.

AU - Hannuksela, M. M.

AU - Varsa, V.

AU - Hourunranta, A.

AU - Gabbouj, M.

N1 - 0-7803-7622-6<br/>Contribution: organisation=sgn,FACT1=1

PY - 2002

Y1 - 2002

M3 - Conference contribution

SP - 729

EP - 732

BT - Proceedings of IEEE 2002 Internantional Conference on Image Processing, ICIP, 22-25 September 2002, Rochester, New York, USA

ER -