Siirry päänavigointiin Siirry hakuun Siirry pääsisältöön

Transient thermal characterization of a stacked multichip package

Julkaisun otsikon käännös: Transient thermal characterization of a stacked multichip package
  • K. Kaija
  • , P. Heino

    Tutkimustuotos: ArtikkeliTieteellinenvertaisarvioitu

    1 Sitaatiot (Scopus)
    Julkaisun otsikon käännösTransient thermal characterization of a stacked multichip package
    AlkuperäiskieliEnglanti
    Sivut23-30
    JulkaisuJournal of Microelectronics and Electronic Packaging
    Vuosikerta4
    Numero1
    TilaJulkaistu - 2007
    OKM-julkaisutyyppiA1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä

    Julkaisufoorumi-taso

    • Ei tasoa

    Siteeraa tätä