Vector-field nonlinear microscopy of nano-objects

Martti Kauranen, Leo Turquet, Godofredo Bautista

    Tutkimustuotos: AbstraktiTieteellinen

    AlkuperäiskieliEnglanti
    TilaJulkaistu - 2018
    Tapahtuma2018 IEEE Photonics Conference - Reston, VA, Yhdysvallat
    Kesto: 30 syysk. 20184 lokak. 2018
    https://ieee-ipc.org/

    Conference

    Conference2018 IEEE Photonics Conference
    Maa/AlueYhdysvallat
    KaupunkiReston, VA
    Ajanjakso30/09/184/10/18
    www-osoite

    Siteeraa tätä