Vector-field nonlinear microscopy of nano-objects

Martti Kauranen
, Leo Turquet
, Godofredo Bautista

Tutkimustuotos: Muu konferenssimateriaali › Abstrakti › Tieteellinen

Alkuperäiskieli	Englanti
Tila	Julkaistu - 2018
Tapahtuma	2018 IEEE Photonics Conference - Reston, VA, Yhdysvallat Kesto: 30 syysk. 2018 → 4 lokak. 2018 https://ieee-ipc.org/

Conference

Conference	2018 IEEE Photonics Conference
Maa/Alue	Yhdysvallat
Kaupunki	Reston, VA
Ajanjakso	30/09/18 → 4/10/18
www-osoite	https://ieee-ipc.org/

Vector-field nonlinear microscopy of nano-objects
Kauranen, M. (Speaker)
2018
Aktiviteetti: Kutsuttu esitelmä

Siteeraa tätä