Siirry päänavigointiin Siirry hakuun Siirry pääsisältöön

X-ray diffraction investigations pf InxGa1-xAs1-yNy/GaAs multilayered structure

Julkaisun otsikon käännös: X-ray diffraction investigations pf InxGa1-xAs1-yNy/GaAs multilayered structure
  • B.B. Molodkin
  • , M. Pessa
  • , E.M. Pavelescu
  • , I.M. Fodchuk
  • , E.N. Kislovskii
  • , S.I. Olikhovskii
  • , T.P. Vladimirova
  • , O.G. Gimchynsky
  • , O.O. Kreutor
  • , E.S. Skakunova

    Tutkimustuotos: ArtikkeliTieteellinenvertaisarvioitu

    1 Sitaatiot (Scopus)
    Julkaisun otsikon käännösX-ray diffraction investigations pf InxGa1-xAs1-yNy/GaAs multilayered structure
    AlkuperäiskieliEnglanti
    Sivut477-495
    JulkaisuMetallofizika i Noveishie Tekhnologii
    Vuosikerta24
    Numero4
    TilaJulkaistu - 2002
    OKM-julkaisutyyppiA1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä

    Julkaisufoorumi-taso

    • Ei tasoa

    Siteeraa tätä